御微半导体首台i6R-300掩模缺陷检测产品成功发运

作者:费丽丽来源:风险管理部发布时间:2022/08/01

  日前,合肥高投新经济发展基金投资企业合肥御微半导体技术有限公司(以下简称“御微半导体”)首台全自动掩模缺陷检测设备i6R-300顺利发运国内集成电路先进制程生产线。


御微半导体i6R-300掩模缺陷检测设备

  御微半导体自主研发的i6R-300掩模缺陷检测设备是基于已被业界广泛认可i6R-100和i6R-200掩模缺陷检测设备的进一步升级开发。i6R-300采用高精度明暗场双检测系统,可以快速高效地同时检测光掩模多个表面上的细微缺陷,并提供缺陷分类、全景检视等功能,为工艺过程控制提供关键数据。为提高生产效率,i6R-300检测设备满足完整的SEMI 自动化标准,可灵活对接OHT和AGV等工厂自动化工具。除检测功能外,i6R-300还提供了光罩清洁和多类型掩模支持的一站式解决方案,灵活满足不同工艺管控需求。

  御微半导体是一家以市场和技术双轮驱动,为集成电路制造提供先进装备的科创企业,以集成电路量检测设备为主营业务,致力于在集成电路制造、先进封装、化合物半导体、新型显示等领域的超高精度量检测关键技术研发。公司聚焦于集成电路光学量检测系统设计与系统集成,围绕集成电路装备自主化,已经形成了掩模版检测、晶圆检测、泛半导体检测、晶圆测量等4大领域6大类量检测产品。
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